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Sonntag, 12. Juli 2020
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Wissenschaft & Technik, Produktions- & Prüftechnik

Abstand von Lichtpunkten ermöglicht Kontaktwinkel-Messung

Freitag, 04. Juni 2010

Neues Analysegerät misst den Kontaktwinkel in der Aufsicht anhand des Abstands von Lichtpunkten, die von der gekrümmten Tropfenoberfläche reflektiert werden. Das System ermöglicht Messungen aufkonkaven Flächen oder in Vertiefungen.

Das neue Modul ermöglicht Messungen auf konkaven Flächen oder in Vertiefungen Quelle: Olivier Le Queinec - Fotolia.com

Das neue Modul ermöglicht Messungen auf konkaven Flächen oder in Vertiefungen Quelle: Olivier Le Queinec - Fotolia.com

Mit einer neuen Messtechnik bringt Krüss Bewegung in die Grenzflächenanalytik. Der "Top View Analyzer TVA100" misst den Kontaktwinkel in der Aufsicht anhand des Abstands von Lichtpunkten, die von der gekrümmten Tropfenoberfläche reflektiert werden. Das System ermöglicht Messungen auf konkaven Flächen oder in Vertiefungen, die eine Messung am Schattenbild mit einer ebenen Anordnung von Beleuchtung, Probe und Optik ausschließen. Dazu gehören zum Beispiel Mikrotiterplatten oder bestückte Leiterplatten. Zudem werden Benetzungsinhomogenitäten durch den Blick von oben sofort sichtbar. Oberflächenenergiebestimmungen können dank der unempfindlichen Präzisionsdosierung mit einer breiten Palette von Flüssigkeiten durchgeführt werden. Der Messkopf ist als Modul für bewährte Krüss-Geräte oder als unabhängiges Portalsystem für die berührungsfreie Untersuchung großer Proben erhältlich.

Verwandte Links:

http://www.kruss.de

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