Im Vergleich zu bisher erhältlichen XPS-Geräten ist das neue Gerät voll automoatisiert und leicht zu bedienen. Nur das Einlegen der Proben erfolgt manuell.

Rastersonden-Mikroskope haben durch ihre enorme Auflösung viele Entwicklungen in der Nanotechnologie erst möglich gemacht. Sie können allerdings Objekte oder auch biologische Prozesse, die sichunter dem Mikroskop minimal verändern, nicht abbilden.

Pulverbeschichtungen werden zerstörungsfrei und berührungslos direkt nach der Application und vor dem Einsintern gemessen.

Ein neues Verfahren ermöglicht die vollautomatische Untersuchung eines kompletten Fahrzeuges auf Kratzer oder Fehler.

Durch den piezoelektrischen Sprühkopf mit seiner dünnen vibrierenden Membran können mit Hilfe der Sprühtrocknung auch Partikel im Bereich von 300 Nanometer bis 5 Mikrometer problemlos erzeugtwerden.

Die Arbeitsweise des Mischvorganges in geschlossenen Gebinden basiert auf dem Prinzip eines horizontal angeordneten Excenters, der mit einer variablen Motorgeschwindigkeit mittels Frequenzumformereine Mischgondel unter einem Neigungswinkel von 8ø bewegt.

Durch Unterdruck erzeugte Saugfunktion sorgt für einfaches Befüllen, schnellen Durchsatz, gute Kühlung und verhindert effektiv das Herausfliegen von Mahlgut bei der Befüllung.

Das neue Steinschlagprüfgerät zeichnet sich durch gute Wiederholbarkeit und Vergleichbarkeit der Prüfergebnisse aus.

Der robuste und kompakte Aufbau mit Akku und integriertem PDA ermöglicht bei einem Gesamtgewicht von 3,5 kg die mobile Messung im Freiland und in rauer Prozessumgebung sowie in Kombination mit derzugehörigen Dockingstation auch den Einsatz als Laborgerät.